Al/Si3N4/p-Si aygıtının C-V characteristikleri üzerine metal ile yarıiletken kontak arasındaki yalıtkan tabakanın kalınlık etkisi [Pamukkale Univ Muh Bilim Derg]
Pamukkale Univ Muh Bilim Derg. 2017; 23(5): 536-542 | DOI: 10.5505/pajes.2016.23911  

Al/Si3N4/p-Si aygıtının C-V characteristikleri üzerine metal ile yarıiletken kontak arasındaki yalıtkan tabakanın kalınlık etkisi

İkram Orak1, Adem Koçyiğit2
1Bingöl Üniversitesi, Sağlık Hizmetleri Meslek Yüksekokulu,12000 Bingöl, Turkey
2Igdir Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi, Elektrik Elektronik Mühendisliği, 7600 Iğdır, Turkey

Metal-Yalıtkan-Yarıiletken (MIS) yapılar elektronik ve optoelektronikteki iyi uygulamalarından büyük ilgiye sahiptirler. Bu yapıların önemi tabaka depolama özelliği, kapasitans etkisi ve yüksek dileketrik sabitlerine sahip olmalarına dayandırılabilir. Bu yüzden Si3N4 tabakalı iki adet numune plazma destekli kimyasal buhar biriktirme (PECVD) yöntemiyle birinin kalınlığı 5 nm diğerinin kalınlığı 50 nm olacak şekilde p-tip Si üzerine büyütüldü. Si3N4 tabakasının kalınlığı bir elipsometreyle kontrol edildi. Al/Si3N4/p tip Si kontağın üzerine Si3N4 tabakasının kalınlık etkisi 10 kHz-1 MHz frekans değerleri için -5 V’tan +5 V voltaj aralığında yapıların kapasitans-voltaj (C–V) ve iletkenlik-voltaj (G–V) karakteristikleri ile oda sıcaklığında araştırıldı. Farklı kalınlığa sahip kontakların her bir durumda kapasitans değerlerinin artan frekansla azaldığı ve iletkenlik değerlerinin arttığı tespit edildi. Ara yüzey durumları (N_ss) ve Seri direnç (R_s) etkileri, bariyer yüksekliği (Φ_b) ve taşıyıcı yoğunluğu (N_a) kapasitans-voltaj (C–V) ve iletkenlik-voltaj (G–V) karakteristikleri karakterizasyonlardan elde edildi ve açıklandı. Ayrıca 5 nm ve 50 nm kalınlık değerindeki tabakalar için 500 kHz frekansta çift yönlü C-V ve G-V karakterizasyonlarından elde edildi ve kıyaslandı. Sonuç olarak, Si3N4 tabakasının kalınlık değişiminin kontakların özelliklerini etkilediği görüldü ve bu kontakların Memrezistör yapısına sahiptirler ve gelecekte hafıza aygıtları için kullanılabilir ve geliştirilebilirler.

Anahtar Kelimeler: Al/Si3N4/p- Si, Schottky, Kapasitans özelliği, MIS, Kalınlık etkisi


The thickness effect of insulator layer between the semiconductor and metal contact on C-V characteristics of Al/Si3N4/p-Si device

İkram Orak1, Adem Koçyiğit2
1Bingöl University, Vocational School Of Health Services,12000 Bingöl, Turkey
2Igdir University, Engineering Faculty, Department Of Electrical Electronic Engineering, 7600 Igdir, Turkey

Metal-insulator-semiconductor (MIS) structures have great interest for their good applications in electronic and optoelectronic. Their importance can be attributed that they have storage layer property, capacitance effect and high dielectric constant. For this reason, two samples of Si3N4 layers were deposited with plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) technique on p-type Si; first is about 5 nm thickness and the other is about 50 nm. The thicknesses of Si3N4 were adjusted by an ellipsometer. The thickness effect of Si3N4 layers on the Al/Si3N4/p type Si contact was studied with the capacitance-voltage (C–V) and conductance–voltage (G-V) characteristics of the contact at the frequency range from 10 kHz to 1 MHz and applied bias voltage from −5 V to +5 V at room temperature. In each contact having different insulator layers, capacitance values decreased and conductance values increased with increasing frequencies. The interface states (N_ss), the effect of series resistance (R_s), barrier height (Φ_b) and carrier concentration (N_a) were found from the capacitance-voltage (C–V) and conductance–voltage (G-V) measurements and explained in the details. To determine memristor behavior of the Al/Si3N4/p type Si contact, dual C-V and G-V measurements were performed at 500 kHz and the room temperature, and the results were compared for 5 nm and 50 nm thicknesses layers. Consequently, changing of Si3N4 layer thickness influenced properties of the contacts, and these two contacts have memristor behavior and, they can be used and improved as memory devices in the future.

Keywords: Al/Si3N4/p- Si, Schottky, Capacitance behavior, MIS, Thickness effect


İkram Orak, Adem Koçyiğit. The thickness effect of insulator layer between the semiconductor and metal contact on C-V characteristics of Al/Si3N4/p-Si device. Pamukkale Univ Muh Bilim Derg. 2017; 23(5): 536-542

Sorumlu Yazar: Adem Koçyiğit, Türkiye


ARAÇLAR
Tam Metin PDF
Yazdır
Alıntıyı İndir
RIS
EndNote
BibTex
Medlars
Procite
Reference Manager
E-Postala
Paylaş
Yazara e-posta gönder

Benzer makaleler
Google Scholar


 
Creative Commons Lisansı
Bu dergi Creative Commons Al 4.0 Uluslararası Lisansı ile lisanslanmıştır.


LookUs & Online Makale